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紅外光譜橢偏儀

免費樣品檢驗 48小時發(fā)貨 工廠直銷
100萬-200萬

產(chǎn)品規(guī)格:振動光譜分析、凈化橢圓偏振光學(xué)器件、計算機控制測角儀等

公司所在地:重慶

產(chǎn)品庫存:現(xiàn)貨及定制

可供貨地區(qū):全國

其他說明:

橢圓振動光譜; 完全適用的FTIR; 可見光范圍內(nèi)不透明的覆蓋層下面的層可進(jìn)行測量; 在400 cm?-1至6,000 cm?-1?(?1.7 μm?–?25 μm?)的光譜范圍提供高精度和高分辨;

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橢圓振動光譜; 完全適用的FTIR; 可見光范圍內(nèi)不透明的覆蓋層下面的層可進(jìn)行測量; 在400 cm?-1至6,000 cm?-1?(?1.7 μm?–?25 μm?)的光譜范圍提供高精度和高分辨; 收起

品牌:
SENTECH
型號:
SENDIRA(FTIR)
功能:
可測量薄厚度、折射率、消光系數(shù)等
用途范圍:
薄層的振動光譜分析
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