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多功能推拉力測試機(jī)廣泛應(yīng)于與LED封裝測試、IC半導(dǎo)體封裝測試、TO封裝測試、IGBT功率模塊封裝測試、光電子元器件封裝測試、汽車領(lǐng)域、研究機(jī)構(gòu)及各類院校研究測試等應(yīng)用。
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多功能推拉力測試機(jī)廣泛應(yīng)于與LED封裝測試、IC半導(dǎo)體封裝測試、TO封裝測試、IGBT功率模塊封裝測試、光電子元器件封裝測試、汽車領(lǐng)域、研究機(jī)構(gòu)及各類院校研究測試等應(yīng)用。收起